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    Yvonne Wich

    Technologiemanagement

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    Fraunhofer IAO
    Nobelstraße 12
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White-Spot-Anaylse

Patentlandkarten gewinnbringend nutzen

Patente bieten nicht nur einen rechtlichen Schutz, sie stellen auch eine nahezu unerschöpfliche technische Informationsquelle dar: aufbereitet in so genannten Technologie- oder Patentlandkarten lassen sich technische Details von Patenten erfassen und anschaulich visualisieren. Diese Methode ermöglicht es darüber hinaus, sehr große Mengen technischer Daten auszuwerten. Die analysierten Daten liefern wertvolle Erkenntnisse für die Entwicklung innovativer Produkte. So lassen sich insbesondere Doppel- oder Fehlentwicklungen vermeiden. In Verbindung mit Marktdaten können zusätzlich Trends früh erkannt und Maßnahmen zur Nutzung der Marktpotenziale getroffen werden.

White-Spot-Analyse

Die vom Fraunhofer IAO entwickelte Methode der White-Spot-Analyse nutzt die Detailtiefe von Patenttexten, indem sie zu jeder im Patent detailliert beschriebenen technischen Lösung ein Problem darlegt. In einem Technologiesektor ist eine Vielzahl an Problem-Lösungs-Kombinationen beschrieben, je nach Anzahl der recherchierten Patente. Alle ermittelten Kombinationen lassen sich in der Problem-Lösungs- Matrix darstellen. Hieraus ergeben sich automatisch Problem-Lösungs-Kombinationen, welche noch nicht durch ein Patent beschrieben wurden und somit gewinnbringende Potenziale für die Neu- oder Weiterentwicklungen von Technologien enthalten.

Die White-Spot-Analyse legt also »weiße Flecken« auf den Patentlandkarten offen. Die Patente liefern aber nicht nur technische Informationen: kombiniert mit bibliografischen Daten, etwa den IPC-Klassen, Anmeldejahren oder den jeweiligen Patentanmeldern, lassen sich zusätzlich Technologietrends ableiten oder Wettbewerbsanalysen durchführen. So können unternehmensspezifisch ganz unterschiedliche technologische und ökonomische Potenziale identifiziert werden.

Die manuelle Analyse hunderter Patente erweist sich in der Praxis als sehr zeitaufwendig und damit kostenintensiv. Die White-Spot-Analyse des Fraunhofer IAO ermöglicht es, durch ein IT-gestütztes Verfahren Patentinhalte schnell und einfach zu erfassen und auszuwerten. So kann bei der Erfassung beispielsweise bis zu 85 Prozent des Zeitaufwands eingespart werden.

Das Tool zur automatisierten Extraktion von relevanten Patentinhalten und damit der »weißen Flecken« wurde vom Fraunhofer IAO in Kooperation mit der TEMIS Deutschland GmbH entwickelt.

Vorteile für Entscheidungsträger

Die White-Spot-Analyse zeigt nicht nur technologische Potenziale auf. Im Rahmen der Analyse werden die ermittelten Potenziale zusätzlich auf ihre wirtschaftliche Attraktivität individuell für ein Unternehmen untersucht.

Unternehmen erhalten so einen Überblick über mögliche Handlungsfelder für die Forschung und Entwicklung. Sie können frühzeitig Marktpotenziale realisieren und auf Technologietrends reagieren. Zusätzlich profitieren Unternehmen von einem Überblick über die Akteure und damit die Wettbewerbssituation in einem Technologiefeld.

Produktblatt zum Downloaden

Fraunhofer IAO Studie:
IT-gestützte White-Spot-Analyse


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