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  • Yvonne Wich


    Yvonne Wich

    Technologiemanagement

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    Fraunhofer IAO
    Nobelstraße 12
    70569 Stuttgart, Germany

    • Telefon +49 711 970-2098
White-Spot-Anaylse

Weiße Flecken auf der Landkarte waren über Jahrhunderte hinweg eine Herausforderung für Entdecker. Forscher und Entwickler suchen heute noch nach weißen Flecken auf der »Landkarte« technischer Innovationen – im Rahmen sogenannter Patentdatenanalysen, insbesondere White-Spot-Analysen. Da die Zahl an Patentanmeldungen und neuer technischer Problemlösungen täglich steigt, ist es mittlerweile unerlässlich, dabei auf IT-gestützte Methoden zurück zu greifen.

Das Fraunhofer IAO hat auf dieser Basis eine spezielle Patentdatenanalyse entwickelt, die über bisher gängige Verfahren hinausgeht: Patentdaten werden hier durch Marktdaten ergänzt und diese Kombination liefert wertvolle Informationen über technische Problemlösungen und deren wirtschaftliches Potenzial. Auf diese Weise lassen sich Technologiepotenziale und Trends identifizieren und Produktentwicklungsrisiken minimieren. Darüber hinaus ist der eigene technologische Stand im Vergleich zum Wettbewerb darstellbar.

Eine aktuelle Studie des Fraunhofer IAO fasst nun den Stand der Technik im Bereich der White-Spot-Analyse sowie der IT-gestützten Patentdatenanalyse zusammen. Zusätzlich wird im zweiten Teil der Studie die vom Fraunhofer IAO entwickelte Analysemethode zunächst theoretisch und anschließend anhand eines praktischen Beispiels erläutert. Die Fallstudie beleuchtet die Chancen und Risiken für Unternehmen im Bereich Elektromobilität, unter Berücksichtigung der Wettbewerbssituation.

Die Publikation richtet sich an produzierende Unternehmen und IP-Managementexperten.

Fraunhofer IAO Studie:
IT-gestützte White-Spot-Analyse


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